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檢測項目

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鍍層厚度測量

鍍層厚度測量:金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質量標志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質量,改善工藝,提高效益。

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鍍層厚度測量項目介紹:

鍍層厚度測量:金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質量標志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質量,改善工藝,提高效益。

鍍層厚度測量一般有3種方法:

1、金相法:

采用金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um,才能保證測量結果在誤差范圍之內;厚度越大,誤差越小。

2、庫侖法:

適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

3、X-ray 方法:

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。

本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,或同時測量三層組分的厚度和成分。

鍍層厚度測量應用領域:

鍍鎳、鍍鉻、鍍金、鍍錫、鍍銀等金屬鍍層

鍍層厚度測量檢測標準:

GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法

ASTM B487-1985(2007) 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法

ISO 1463-2003 金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法

隱石檢測服務流程:

咨詢溝通:確認客戶檢測項目,檢測標準,檢測要求,并填寫測試申請表

提供樣品:樣品可選擇寄送或者上門檢測

簽約付款:確認委托后,安排打款,收款后通知開案

分析測試:根據(jù)測試申請表安排測試

出具報告:根據(jù)測試申請表及檢測結果出具報告,委托方確認無誤后,檢測報告簽字蓋章

寄送報告:檢測報告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送

增值服務:檢測樣品保留2個月

我們的優(yōu)勢:

1.報告權威:具有CMA和CNAS資質,特種設備檢驗檢測核準證書

2.設備先進:擁有業(yè)內專業(yè)檢驗檢測設備300多臺

3.專業(yè)團隊:擁有專業(yè)服務及檢測團隊,業(yè)務覆蓋全國

4.加工中心: 擁有自己的數(shù)控加工中心,滿足不同檢測項目的加工制樣要求


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